[发明专利]测定发光器件老化的方法及使用该方法的光发射驱动装置

说明书

                       技术领域

本发明涉及一种测定发光器件老化的方法，其用在磁-光盘的磁光记录/再现系统以及涉及使用该方法的光发射驱动装置。

                       背景技术

通常在使用磁-光盘(magneto-optic disc)的磁-光记录/再现系统中，例如将半导体激光二极管等用作光学拾取装置的发光器件。激光二极管由驱动信号来激励(驱动)它是由与其相连的驱动装置提供的数据获得的，以便给出一个预定的光输出。该预定的输出光照射在一个磁-光盘上，使在其上记录数据，另一束预定的输出光也照射在该磁-光盘上，用来读出记录在其上的数据。

激光二极管随时间老化，在其被超过一段时间使用以后激光二极管将不再能提供所需要的光输出。如图6所示，随着使用时间量t的增加，提供同样光输出Pw所需的电流I随之增大，当超过某一驱动电流时，光输出会迅速下降。

因此，一些激光二极管制造商在附上的一份说明书中给出其保证期限，以便预先告诉用户，当保证期限一过就应当更换激光二极管。另一方面这也取决于用户，他们可以连续使用一激光二极管但仅在使用它已不能得到记录的数据时再将其更换。

如果不考虑各个激光二极管存在的差异，而设定保证期限，这样会出现即便在保证期限过后有些激光二极管也完全能使用的情况，在这种情况下，设定的保证期限只能促成浪费以及激光二极管的使用不经济。

如果当记录的数据已不能被获得时更换激光二极管就能使其得到充分的利用。但是当实际记录或再现数据时有可能遇到激光二极管寿命突然终止而不能发射出足够强的光的情况。如果发生这种情况，就需要对记录进行检查，例如再次记录数据以确定在哪一点数据被有效地记录了，但这需要大量的劳动。

                       发明内容

为了解决上述存在的问题，本发明的目的是提供一种测定发光器件老化的方法以及使用该方法的光发射驱动装置。其依据在大多数情况下，当为了获得发光器某一输出所需要的驱动电流上升到相对于预定的驱动电流值的某一特定值时，发光器件的光输出会迅速下降，由此监测电子老化(electronicdeterioration)该方法可尽可能精确地测定使用中的发光器件的老化，以使该驱动装置能禁止发光器件不再发光。

根据本发明，提供特定光输出所需的驱动电流值被用作为基准值，老化阈值电流则为n倍于基准值的驱动电流，当达到老化阈值电流时表明需要更换发光器件，以此来测定发光器件的老化。

如果将提供该特定光输出所需的驱动电流值用作基准值，则该基准值还应当加上平均温度校正系数引起的校正电流值。这样，该老化阈值电流为n倍于该校正基准值的驱动电流，当达到老化阈值电流时表明需要更换发光器件，以此来测定发光器件的老化。

另外，如果将提供该特定光输出所需的驱动电流值用作基准值，该基准值也应加上发光器件温度校正系数引起的校正电流值。这样，该老化阈值电流为n倍于该校正基准值的驱动电流，当达到老化阈值电流时表明需要更换发光器件，以此来测定发光器件的老化。

根据本发明的另一方面，本发明提供了一种光发射驱动装置其包括：一个发光器件；一个探测流经发光器件的驱动电流的电流检测器；一个安装在发光器件旁的温度传感器以及一个接收该电流检测器和温度传感器输出的发光器件控制部分。其中，根据温度T1时和温度T2(＞T1)时的驱动电流值获得的发光器件温度校正系数被贮存在存储器中，再用温度校正系数来计算被测温度Ti的老化阈值电流，并当检测到的电流超过了被测温度Ti的老化阈值电流时，禁止给发光器件提供驱动电流。

下面参照附图详细地描述根据本发明的发光器件老化测定方法以及使用该方法的光发射驱动装置的实施例，并说明如何将本发明应用在上述的利用磁-光盘的记录/再现系统中。

                       附图说明

图1是根据本发明的APC系统光发射驱动装置的一个应用实例的示意图；

图2是一个如何测定发光器件老化的流程图；

图3是表示工作温度与驱动电流之间关系的示意图；

图4是表示驱动电流与温度校正系数之间关系的示意图；

图5是表示平均温度校正系数与特定温度校正系数之间关系的示意图；

图6是表示工作时间与驱动电流之间关系的示意图。

                         具体实施方式