[发明专利]高压电子铝箔{100}织构占有率的检测方法

摘要

本发明提供一种对高压电子铝箔{100}面织构占率的定量检测方法。根据X线测得的Shoo(α，β)、Shho(α，β)或Shhh(α，β)数据，对反映{100}面织构的衍射强度峰按用最小二乘法求出S0和b常数。然后用计算{100}面织构占有率。衍射强度峰的散布宽度。本发明的优点是所需测试的数据少，计算简单，便于现场生产在线检验，并同时给出{100}面积构占率V%和衍射强度峰的散布宽度θh。

主权项

1、一种高压电子铝箔{100}织构占有率的检测方法，其特征在于：a、选取用X线测得的、并经去背底和修正过的衍射强度分布数据Shoo(α，β)，Shhh(α，β)或Shho(α，β)，其中α是探测方向与箔面法线的夹角，β是以轧制方向为起始位置，绕箔面法线转动的角度，hoo、hho、hhh表示参加衍射的晶面指数，h为任意整数；b、确定峰值方向和附近方向(α，β)间的夹角θ：θ=Cos-1h′SinαCosβ+K′SinαSinβ+1′Cosαh′2+h′2+1′2----(1)其中h′，K′和1′是对应所选择的参加衍射的晶面指数{hoo}、{hho}或{hhh}，用(1)式把S(α，β)表示为S(θ)；C、衍射强度峰分布为S(θ)符合如下关系：S~(θ)=KS0exp(-θ2b)----(2)其中So和b是常数，K是归一化因子，K=2πΣS(α,β)SinαΔαΔβ----(3)x=0~π2β＝0～2πΔα和Δβ分别是α与β角的实测步长，根据θ和S(θ)的数据及(2)式，用最小二乘法计算出So和b；d、{100}面织构的占有率为：V%=N∫0π2S~(θ)Sinθdθ----(4)对应{hoo}，{hho}和{hhh}，N分别是3，6和4。衍射强度峰的散布宽度θh为：θh=2b----(5)