[发明专利]高压电子铝箔{100}织构占有率的检测方法

权利要求书

1、一种高压电子铝箔{100}织构占有率的检测方法，其特征在于：

a、选取用X线测得的、并经去背底和修正过的衍射强度分布数据Shoo(α，β)，Shhh(α，β)或Shho(α，β)，其中α是探测方向与箔面法线的夹角，β是以轧制方向为起始位置，绕箔面法线转动的角度，hoo、hho、hhh表示参加衍射的晶面指数，h为任意整数；

b、确定峰值方向和附近方向(α，β)间的夹角θ： θ = Co s - 1 h ′ SinαCosβ + K ′ SinαSinβ + 1 ′ Cosα h ′ 2 + h ′ 2 + 1 ′ 2 - - - - ( 1 ) ]]>

其中h′，K′和1′是对应所选择的参加衍射的晶面指数{hoo}、{hho}或{hhh}，用(1)式把S(α，β)表示为S(θ)；

C、衍射强度峰分布为S(θ)符合如下关系： S ~ ( θ ) = K S 0 exp ( - θ 2 b ) - - - - ( 2 ) ]]>

其中So和b是常数，K是归一化因子， K = 2 π ΣS ( α , β ) SinαΔαΔβ - - - - ( 3 ) ]]> x = 0 ~ π 2 ]]>

β＝0～2π

Δα和Δβ分别是α与β角的实测步长，根据θ和S(θ)的数据及(2)式，用最小二乘法计算出So和b；

d、{100}面织构的占有率为： V % = N ∫ 0 π 2 S ~ ( θ ) Sinθdθ - - - - ( 4 ) ]]>

对应{hoo}，{hho}和{hhh}，N分别是3，6和4。衍射强度峰的散布宽度θh为： θh = 2 b - - - - ( 5 ) ]]>