[发明专利]屏蔽栅MOSFET结构、屏蔽栅功率器件及制备方法在审
申请号: | 202310928121.1 | 申请日: | 2023-07-27 |
公开(公告)号: | CN116666437A | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 王丹丹;徐承福;安秋爽;韩玉亮 | 申请(专利权)人: | 绍兴中芯集成电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/423;H01L21/336;H01L29/78;H01L27/088;H01L21/8234 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑星 |
地址: | 312000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供一种屏蔽栅MOSFET结构、屏蔽栅功率器件及制备方法,屏蔽栅MOSFET结构包括形成于衬底中的源极掺杂区和元胞沟槽,所述源极掺杂区位于所述元胞沟槽的外侧,所述元胞沟槽中形成有间隔且绝缘设置的多晶硅栅极和多晶硅源极,所述多晶硅栅极环设在所述多晶硅源极外侧,且所述多晶硅栅极与源极掺杂区间隔且绝缘设置,以增强屏蔽栅功率器件的耗尽能力,从而降低导通电阻。 | ||
搜索关键词: | 屏蔽 mosfet 结构 功率 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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