[发明专利]器件用电监测电路和芯片测试系统在审
申请号: | 202310515934.8 | 申请日: | 2023-05-08 |
公开(公告)号: | CN116609567A | 公开(公告)日: | 2023-08-18 |
发明(设计)人: | 徐永刚;徐怡静;刘冲;李振华;衡阳 | 申请(专利权)人: | 成都态坦测试科技有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00 |
代理公司: | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人: | 隆毅 |
地址: | 610000 四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开一种器件用电监测电路和芯片测试系统,其中,器件用电监测电路包括主控单元和至少一个检测单元,每一个检测单元均用于单独检测一个器件,检测单元包括采样负载和监测子单元;采样负载用于串接在器件的电源输入端;监测子单元电连接采样负载和主控单元,监测子单元通过监测采样负载两端的电压,结合采样负载的阻值确定器件的用电数据,并将确定的用电数据发送给主控单元。本发明技术方案,实现在芯片测试过程中监测芯片的用电数据,从而测试得到芯片的功耗情况,从而可根据芯片的功耗大小区分芯片的应用等级。 | ||
搜索关键词: | 器件 用电 监测 电路 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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