[发明专利]器件用电监测电路和芯片测试系统

权利要求书

1.一种器件用电监测电路，其特征在于，包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，所述检测单元包括：

采样负载，用于串接在所述器件的电源输入端；

监测子单元，电连接所述采样负载和所述主控单元，所述监测子单元通过监测所述采样负载两端的电压，结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元。

2.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，包括：

根据所述采样负载两端的电压差和所述采样负载的阻值计算出流经所述采样负载的电流；

根据所述采样负载与所述器件相连的一端的电压和流经所述采样负载的电流，计算出所述器件的功耗。

3.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述主控单元包括至少一条I2C总线，每一条所述I2C总线均电连接多个所述监测子单元。

4.根据权利要求3所述的器件用电监测电路，其特征在于，各个监测子单元的ID均不同。

5.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述监测子单元具有第一差分输入端和第二差分输入端，所述第一差分输入端和第二差分输入端分别电连接所述采样负载的两端。

6.根据权利要求5所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述检测单元还包括滤波子单元，所述滤波子单元电连接所述第一差分输入端和所述第二差分输入端。

7.根据权利要求6所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述滤波子单元包括第一电容、第一电阻和第二电阻，所述第一电阻的一端电连接所述采样负载的一端，所述第一电阻的另一端电连接所述第一电容的一端和所述第一差分输入端，所述第二电阻的一端电连接所述采样负载的另一端，所述第二电阻的另一端电连接所述第一电容的另一端和所述第二差分输入端。

8.根据权利要求7所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述监测子单元为电流检测芯片，所述电流检测芯片的电源脚连接电源，且经第二电容接地。

9.一种芯片测试系统，其特征在于，包括至少一个芯片测试座和权利要求1-8任一项所述的器件用电监测电路，每一个检测单元的采样电阻对应串接在一个芯片测试座的电源输入端。

10.根据权利要求9所述的芯片测试系统，其特征在于，所述主控单元与所述芯片测试座一一对应的信号接口，每一个所述信号接口均与对应的芯片测试座电连接，用于接收所述芯片测试座输出的测试结果信号。