[发明专利]器件用电监测电路和芯片测试系统

说明书

本发明公开一种器件用电监测电路和芯片测试系统，其中，器件用电监测电路包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，检测单元包括采样负载和监测子单元；采样负载用于串接在器件的电源输入端；监测子单元电连接采样负载和主控单元，监测子单元通过监测采样负载两端的电压，结合采样负载的阻值确定器件的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元。本发明技术方案，实现在芯片测试过程中监测芯片的用电数据，从而测试得到芯片的功耗情况，从而可根据芯片的功耗大小区分芯片的应用等级。

技术领域

本发明涉及芯片测试设备领域，特别涉及一种器件用电监测电路和芯片测试系统。

背景技术

在芯片的生产中，当芯片封装完成后，都需要送入测试工序进行测试验证，以确定芯片是否合格。

目前，芯片测试方案通常都是将芯片放置到测试座中，以对芯片的各项功能是否正常进行测试。由于不同领域对采用的芯片有不同等级的功耗要求，然而现有的芯片测试方案在测试过程中，无法实时获得芯片的用电数据，不能得到芯片的功耗情况，因此，无法根据芯片的功耗大小区分芯片的应用等级。

发明内容

本发明提供一种器件用电监测电路和芯片测试系统，旨在实现在芯片测试过程中监测芯片的用电数据，从而测试得到芯片的功耗情况。

为实现上述目的，本发明提出的器件用电监测电路，包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，所述检测单元包括：

采样负载，用于串接在所述器件的电源输入端；

监测子单元，电连接所述采样负载和所述主控单元，所述监测子单元通过监测所述采样负载两端的电压，结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元。

在一些实施例中，所述结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，包括：

根据所述采样负载两端的电压差和所述采样负载的阻值计算出流经所述采样负载的电流；

根据所述采样负载与所述器件相连的一端的电压和流经所述采样负载的电流，计算出所述器件的功耗。

在一些实施例中，所述主控单元包括至少一条I2C总线，每一条所述I2C总线均电连接多个所述监测子单元。

在一些实施例中，各个监测子单元的ID均不同。

在一些实施例中，所述监测子单元具有第一差分输入端和第二差分输入端，所述第一差分输入端和第二差分输入端分别电连接所述采样负载的两端。

在一些实施例中，所述检测单元还包括滤波子单元，所述滤波子单元电连接所述第一差分输入端和所述第二差分输入端。

在一些实施例中，所述滤波子单元包括第一电容、第一电阻和第二电阻，所述第一电阻的一端电连接所述采样负载的一端，所述第一电阻的另一端电连接所述第一电容的一端和所述第一差分输入端，所述第二电阻的一端电连接所述采样负载的另一端，所述第二电阻的另一端电连接所述第一电容的另一端和所述第二差分输入端。

在一些实施例中，所述监测子单元为电流检测芯片，所述电流检测芯片的电源脚连接电源，且经第二电容接地。

本发明还提出一种芯片测试系统，包括至少一个芯片测试座和上述器件用电监测电路，每一个检测单元的采样电阻对应串接在一个芯片测试座的电源输入端。

在一些实施例中，所述主控单元与所述芯片测试座一一对应的信号接口，每一个所述信号接口均与对应的芯片测试座电连接，用于接收所述芯片测试座输出的测试结果信号。