[发明专利]基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 202310515108.3 申请日: 2023-05-09
公开(公告)号: CN116243147B 公开(公告)日: 2023-08-18
发明(设计)人: 蒋晓伟 申请(专利权)人: 武汉芯必达微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 徐瑛
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法及装置,所述方法包括:将至少两个待测外设的输入和输出分别与PAD功能矩阵互连,以形成PAD回环;配置所述PAD回环内的PAD数据方向;执行功能测试程序,并读取测试结果。本发明通过PAD功能矩阵完成待测外设的数据分发,将不同待测外设通过PAD互联,通过内部主机控制功能测试程序,完成整个芯片的自测试。本发明通过PAD功能矩阵实现外设自测试,减少了PAD测试的pattern,降低了测试成本和测试复杂度。本发明基于功能进行测试,可以从芯片功能的角度去测试整个芯片,直观看到芯片整体功能是否能正常运行,且可以作为对DFT测试的补充,覆盖DFT测试无法覆盖的部分。
搜索关键词: 基于 pad 功能 矩阵 集成 控制 芯片 外设 测试 方法 装置
【主权项】:
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