[发明专利]基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法及装置有效
申请号: | 202310515108.3 | 申请日: | 2023-05-09 |
公开(公告)号: | CN116243147B | 公开(公告)日: | 2023-08-18 |
发明(设计)人: | 蒋晓伟 | 申请(专利权)人: | 武汉芯必达微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 徐瑛 |
地址: | 430000 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法及装置,所述方法包括:将至少两个待测外设的输入和输出分别与PAD功能矩阵互连,以形成PAD回环;配置所述PAD回环内的PAD数据方向;执行功能测试程序,并读取测试结果。本发明通过PAD功能矩阵完成待测外设的数据分发,将不同待测外设通过PAD互联,通过内部主机控制功能测试程序,完成整个芯片的自测试。本发明通过PAD功能矩阵实现外设自测试,减少了PAD测试的pattern,降低了测试成本和测试复杂度。本发明基于功能进行测试,可以从芯片功能的角度去测试整个芯片,直观看到芯片整体功能是否能正常运行,且可以作为对DFT测试的补充,覆盖DFT测试无法覆盖的部分。 | ||
搜索关键词: | 基于 pad 功能 矩阵 集成 控制 芯片 外设 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉芯必达微电子有限公司,未经武汉芯必达微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310515108.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。