[发明专利]基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法及装置

权利要求书

1.基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法，其特征在于，所述方法利用PAD的特性，将PAD的输入输出连接芯片内部两个不同的外设模块，并让PAD连接的两个外设模块产生数据交互，实现芯片内部两个外设模块的自测试；

所述方法包括：

将至少两个待测外设的输入和输出分别与PAD功能矩阵互连，以形成PAD回环；所述PAD功能矩阵包括通信互连矩阵、PAD方向控制器和若干PAD，所述通信互连矩阵将不同待测外设的输入输出分别与若干PAD互连，所述PAD方向控制器用于选择PAD数据输入输出方向的控制模式，并控制PAD数据的输入输出方向；

配置所述PAD回环内的PAD数据方向；

执行功能测试程序，并读取测试结果。

2.根据权利要求1所述基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法，其特征在于，配置所述PAD回环内的PAD数据方向，进一步包括：将所述PAD数据方向配置为自动控制模式或手动控制模式。

3.根据权利要求2所述基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法，其特征在于，所述自动控制模式的配置包括：分别对形成PAD回环的待测外设使能master外设功能和slave外设功能，并将master外设功能对应的数据方向设置为输出，将slave外设功能对应的数据方向设置为输入。

4.根据权利要求1所述基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法，其特征在于，执行功能测试程序时，读取芯片内部状态寄存器，以判断芯片是否能正常运行。

5.根据权利要求1所述基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法，其特征在于，所述待测外设包括：SPI、I2C、UART、GPIO或PWM。

6.基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试装置，其特征在于，所述装置利用PAD的特性，将PAD的输入输出连接芯片内部两个不同的外设模块，并让PAD连接的两个外设模块产生数据交互，实现芯片内部两个外设模块的自测试；所述装置包括：PAD功能矩阵和至少两个待测外设，至少两个所述待测外设的输入和输出分别与PAD功能矩阵互连，以形成PAD回环；所述PAD功能矩阵包括通信互连矩阵、PAD方向控制器和若干PAD，所述通信互连矩阵将不同待测外设的输入输出分别与若干PAD互连，所述PAD方向控制器用于选择PAD数据输入输出方向的控制模式，并控制PAD数据的输入输出方向。