[发明专利]基于FPGA的芯片DFT测试电路、方法及测试机台有效
| 申请号： | 202310301490.8 | 申请日： | 2023-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN116008791B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 李闻界 | 申请（专利权）人： | 上海韬润半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 童素珠 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA的芯片DFT测试电路、方法及测试机台，其电路包括：测试数据存储器，用于存储芯片DFT的测试向量；时钟模块用于接收测试向量，并根据测试向量向待测芯片输出低电平信号或时钟波形信号；第一数据输出模块用于根据测试向量向待测芯片输出高电平、低电平或高阻态信号；第一数据输入模块用于接收待测芯片反馈的测试信号，并根据测试向量控制比较管脚执行高电平比较、低电平比较或高阻态，输出相应的比较测试结果；测试结果传输模块用于输出比较测试结果；芯片DFT测试电路部署于FPGA结构中，通过FPGA信号与所述待测芯片通信连接。本发明可以提高芯片DFT测试便捷性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 芯片 dft 测试 电路 方法 机台 | ||
【主权项】：
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