[发明专利]上拉阻抗校准方法及装置、电子设备在审
| 申请号： | 202310202471.X | 申请日： | 2023-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN116052754A | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 何飒;沈杰;朱海奇;黄怡仁 | 申请（专利权）人： | 联芸科技（杭州）股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 徐晨影 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种LPDDR4/NV‑LPDDR4的上拉阻抗校准方法及装置、电子设备、可读存储介质，本申请提供的方案包括：获取LPDDR4/NV‑LPDDR4的内存/控制器的上拉驱动模块接入的电源电压、所述上拉驱动模块输出的电压输出高电平、以及所述内存/控制器的片内终结电阻的阻抗；基于所述电源电压、所述电压输出高电平和所述阻抗，确定所述上拉驱动模块的理论阻抗值；基于所述理论阻抗值和预设参考电压，校准所述上拉驱动模块的上拉阻抗。 | ||
| 搜索关键词： | 阻抗 校准 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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