[发明专利]一种晶圆清洗系统在审
| 申请号: | 202310160258.7 | 申请日: | 2023-02-24 |
| 公开(公告)号: | CN116544137A | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
| 发明(设计)人: | 刘明华;甘健康 | 申请(专利权)人: | 成都尚明工业有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
| 代理公司: | 成都欣圣知识产权代理有限公司 51292 | 代理人: | 张翃森 |
| 地址: | 610199 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | 本发明提供了一种晶圆清洗系统,涉及半导体制造技术领域。本发明包括晶圆传送盒和晶圆清洗机构,晶圆传送盒内部上下等间距叠放有多个晶圆,晶圆清洗机构包括多个上下设置的清洗槽,清洗槽内转动设有内径与晶圆适配的圆环状环座,环座内壁设有夹持件,清洗槽侧部转动设有转柱,多个支杆分别设于清洗槽的上、下部并与转柱连接,清洗槽上部的支杆底部、下部的支杆顶部分别设有上清洗组件、下清洗组件,该系统还包括晶圆定位机构和晶圆移动机构,晶圆移动机构用于在晶圆传送盒、晶圆定位机构、晶圆清洗机构间转移晶圆,晶圆在晶圆定位机构内定位后再进入晶圆清洗机构。本发明实现了对晶圆批量进行清洗,晶圆清洗效率大幅提高。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 清洗 系统 | ||
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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