[发明专利]一种晶圆清洗系统在审

专利信息
申请号: 202310160258.7 申请日: 2023-02-24
公开(公告)号: CN116544137A 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 刘明华;甘健康 申请(专利权)人: 成都尚明工业有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/677
代理公司: 成都欣圣知识产权代理有限公司 51292 代理人: 张翃森
地址: 610199 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 清洗 系统
【说明书】:

发明提供了一种晶圆清洗系统,涉及半导体制造技术领域。本发明包括晶圆传送盒和晶圆清洗机构,晶圆传送盒内部上下等间距叠放有多个晶圆,晶圆清洗机构包括多个上下设置的清洗槽,清洗槽内转动设有内径与晶圆适配的圆环状环座,环座内壁设有夹持件,清洗槽侧部转动设有转柱,多个支杆分别设于清洗槽的上、下部并与转柱连接,清洗槽上部的支杆底部、下部的支杆顶部分别设有上清洗组件、下清洗组件,该系统还包括晶圆定位机构和晶圆移动机构,晶圆移动机构用于在晶圆传送盒、晶圆定位机构、晶圆清洗机构间转移晶圆,晶圆在晶圆定位机构内定位后再进入晶圆清洗机构。本发明实现了对晶圆批量进行清洗,晶圆清洗效率大幅提高。

技术领域

本发明涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种晶圆清洗系统。

背景技术

晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅。硅晶棒在经过研磨,抛光,切片后,形成硅晶圆片,也就是晶圆。晶圆清洗指的是,在集成电路的制造过程中,采用化学或者物理的方法,将晶圆表面的污染物以及氧化物去除,使得晶圆表面符合清洁度要求的过程。

现有技术中,晶圆清洗设备只能对一个晶圆进行清洗,无法实现批量清洗,清洗效率较低,亟需解决。

发明内容

本发明的目的是开发一种容纳多个晶圆同时清洗,提高晶圆清洗效率的晶圆清洗系统。

本发明通过如下的技术方案实现:

一种晶圆清洗系统,包括:

晶圆传送盒,内部上下等间距叠放有多个晶圆;

晶圆清洗机构,包括:

多个清洗槽,上下设置;

环座,呈内径与晶圆适配的圆环状并转动设于清洗槽内;

夹持件,设于环座内壁;

转柱,转动设于清洗槽侧部;

多个支杆,分别设于清洗槽的上部和下部并与转柱连接;

上清洗组件,设于清洗槽上部的支杆底部;

下清洗组件,设于清洗槽下部的支杆顶部;

其中,该系统还包括晶圆定位机构和晶圆移动机构,所述晶圆移动机构用于在晶圆传送盒、晶圆定位机构、晶圆清洗机构间转移晶圆,晶圆在所述晶圆定位机构内定位后再进入晶圆清洗机构。

可选的,所述上清洗组件包括设于支杆底部的第一喷头和第二喷头,所述第一喷头和第二喷头均与液体管路连通,所述第一喷头还与气体管路连通。

可选的,所述下清洗组件包括设于支杆顶部的第三喷头和清洁刷,所述第三喷头与液体管路连通。

可选的,所述清洗槽底部封闭且顶部开口,所述第三喷头、清洁刷与支杆之间均设有升降件,所述升降件驱动第三喷头、清洁刷升降,所述清洗槽底部设有供第三喷头、清洁刷穿过和滑动的摆动槽,所述摆动槽两侧的清洗槽底部呈斜面,所述清洗槽边缘为斜面的较高端,所述清洗槽底部侧壁设有排管。

可选的,所述支杆顶部设有呈球面状的挡罩,所述第三喷头、清洁刷设于挡罩中部,所述挡罩中心为最低端,所述挡罩中心处连通有下液管。

可选的,所述清洗槽内设有支座,所述环座转动设于支座上,所述环座外壁上设有环齿,所述支座上对应位置转动设有与环齿啮合的齿轮,所述支座上设有与齿轮传动连接的电机。

可选的,所述晶圆定位机构包括支柱,所述支柱上滑动设有数量与清洗槽对应的多个定位台,所述定位台上滑动设有两个定位块,两所述定位块相互靠近的侧壁呈与晶圆形状适配的圆弧形。

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