[发明专利]一种日志校验方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310091838.5 申请日: 2023-02-03
公开(公告)号: CN116166501A 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 翟亚雷;杨辰;葛晓波 申请(专利权)人: 上海擎创信息技术有限公司
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G06F11/34;G06F16/906;G06F16/2458
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 骆文欣
地址: 200436 上海市静*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种日志校验方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括:获取第一日志信息和第二日志信息,确定第一日志信息和第二日志信息中的待校验变量;对于任一待校验变量,对待校验变量的长度、首字母、统计量和变量类型中的一项或多项进行校验,得到待校验变量的校验结果;基于各待校验变量的校验结果确定第一日志信息和第二日志信息的校验结果。通过对不同种类的日志信息进行聚类处理,提取出日志模版以及变量,确定日志信息中需要校验的变量,对校验的变量进行智能对比校验,确定日志信息的校验结果,解决日志校验面临日志种类繁多、数据量大、情况复杂等问题,实现对日志变更做出一个全方位精细化校验,提高了日志校验的高效性和通用性。
搜索关键词: 一种 日志 校验 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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