[发明专利]一种日志校验方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种日志校验方法，其特征在于，包括：

获取第一日志信息和第二日志信息，确定所述第一日志信息和所述第二日志信息中的待校验变量；

对于任一待校验变量，对所述待校验变量的长度、首字母、统计量和变量类型中的一项或多项进行校验，得到所述待校验变量的校验结果；

基于各所述待校验变量的校验结果确定所述第一日志信息和所述第二日志信息的校验结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第一日志信息和第二日志信息，还包括：

获取多个待校验日志信息，对所述多个待校验日志信息进行聚类处理，得到各类日志信息；

在同一类日志信息中，确定进行校验的第一日志信息和第二日志信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在确定进行校验的第一日志信息和第二日志信息之前，还包括：

确定所述同一类日志信息各日志信息的日志类型；

若所述同一类日志信息各日志信息的日志类型均相同，则取消对所述类中日志信息的校验；

若所述同一类日志信息中包括存在不同日志类型的日志信息，则继续确定进行校验的第一日志信息和第二日志信息的步骤。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述同一类日志信息各日志信息的日志类型均相同的情况下，所述方法还包括：

若所述同一类日志信息中各日志信息的日志类型均为生产日志，则生成缺失日志信息；

若所述同一类日志信息中各日志信息的日志类型均为回放日志，则生成新增日志信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一日志信息和所述第二日志信息中的待校验变量，包括：

对所述第一日志信息和所述第二日志信息的各变量进行异常度计算，得到变量异常度；

若所述变量异常度满足校验条件，则确定对应变量为待校验变量；

若所述变量异常度不满足校验条件，则确定对应变量为非待校验变量。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对于任一待校验变量，对所述待校验变量的长度、首字母、统计量和变量类型中的一项或多项进行校验，得到所述待校验变量的校验结果，包括：

基于预设校验顺序，对所述待校验变量的长度、首字母、统计量和变量类型依次进行校验；

若所述待校验变量在所述长度、所述首字母、所述统计量和所述变量类型中的任一项发生变化，则生成异常原因，并停止对所述待校验变量的校验。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述待校验变量的长度、首字母、统计量的校验方式为：确定所述待校验变量在所述第一日志信息和所述第二日志信息中的长度、首字母、统计量，并比对是否发生变化；

所述变量类型的校验方式为：

若所述待校验变量的变量类型为可枚举类型，则确定所述第一日志信息和所述第二日志信息中所述待校验变量的统计柱状图重叠面积,基于所述待校验变量的统计柱状图重叠面积确定所述变量类型的校验结果；

若所述待校验变量的变量类型为不可枚举类型，则确定所述第一日志信息和所述第二日志信息中所述待校验变量的变量均值和标准差高斯分布重叠面积，基于所述待校验变量的变量均值和标准差高斯分布重叠面积确定所述变量类型的校验结果。

8.一种日志校验装置，其特征在于，包括：

待校验变量确定模块，用于获取第一日志信息和第二日志信息，确定所述第一日志信息和所述第二日志信息中的待校验变量；

校验结果确定模块，用于对于任一待校验变量，对所述待校验变量的长度、首字母、统计量和变量类型中的一项或多项进行校验，得到所述待校验变量的校验结果；

日志信息校验模块，用于基于各所述待校验变量的校验结果确定所述第一日志信息和所述第二日志信息的校验结果。