[发明专利]一种日志校验方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种日志校验方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取第一日志信息和第二日志信息，确定第一日志信息和第二日志信息中的待校验变量；对于任一待校验变量，对待校验变量的长度、首字母、统计量和变量类型中的一项或多项进行校验，得到待校验变量的校验结果；基于各待校验变量的校验结果确定第一日志信息和第二日志信息的校验结果。通过对不同种类的日志信息进行聚类处理，提取出日志模版以及变量，确定日志信息中需要校验的变量，对校验的变量进行智能对比校验，确定日志信息的校验结果，解决日志校验面临日志种类繁多、数据量大、情况复杂等问题，实现对日志变更做出一个全方位精细化校验，提高了日志校验的高效性和通用性。

技术领域

本发明涉及信息校验技术领域，尤其涉及一种日志校验方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

现代软件系统通常会生成大量日志，大约每小时生成十亿字节的数据，可以通过检查日志消息以获取关键诊断信息。

证券业务研发部门在每次有版本变更前，都需要拿生产交易数据在新版本的测试环境运行一遍，检验新版本是否有异常。可以通过对日志信息进行字段校验，如字段和字段值都一致，则说明版本更新没有问题，如前后出现不一致的现象，则说明可能是测试环境的问题。

对于日志中的字段进行逐个校验，耗费时间较长，不利于对拥有大量业务的系统更新过程中产生的日志进行校验，并且此类日志校验的方法通用性较差。

发明内容

本发明提供了一种日志校验方法、装置、电子设备及存储介质，以解决在日志校验面临着日志种类繁多、数据量大、情况复杂等问题的情况下校验效率低和通用性差的问题。

根据本发明的一方面，提供了一种日志校验方法，包括：

获取第一日志信息和第二日志信息，确定第一日志信息和第二日志信息中的待校验变量；

对于任一待校验变量，对待校验变量的长度、首字母、统计量和变量类型中的一项或多项进行校验，得到待校验变量的校验结果；

基于各待校验变量的校验结果确定第一日志信息和第二日志信息的校验结果。

可选的，获取第一日志信息和第二日志信息，还包括：

获取多个待校验日志信息，对多个待校验日志信息进行聚类处理，得到各类日志信息；

在同一类日志信息中，确定进行校验的第一日志信息和第二日志信息。

可选的，在确定进行校验的第一日志信息和第二日志信息之前，还包括：

确定同一类日志信息各日志信息的日志类型；

若同一类日志信息各日志信息的日志类型均相同，则取消对所述类中日志信息的校验；

若同一类日志信息中包括存在不同日志类型的日志信息，则继续确定进行校验的第一日志信息和第二日志信息的步骤。

可选的，在同一类日志信息各日志信息的日志类型均相同的情况下，方法还包括：

若同一类日志信息中各日志信息的日志类型均为生产日志，则生成缺失日志信息；

若同一类日志信息中各日志信息的日志类型均为回放日志，则生成新增日志信息。

可选的，确定第一日志信息和第二日志信息中的待校验变量，包括：

对第一日志信息和第二日志信息的各变量进行异常度计算，得到变量异常度；

若变量异常度满足校验条件，则确定对应变量为待校验变量；

若变量异常度不满足校验条件，则确定对应变量为非待校验变量。