[发明专利]一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法在审
| 申请号： | 202310041901.4 | 申请日： | 2023-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN116298775A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张志高;黄海林;李力游;小约翰·罗伯特·罗兰 | 申请（专利权）人： | 南京蓝洋智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京鑫智达知识产权代理事务所(普通合伙) 32440 | 代理人： | 冷文燕 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法，在芯片同步时钟测试电路中，在PLL输出时钟后面连接pulse_ctrl模块，所述pulse_ctrl模块产生内部时钟和复位；包括divider模块，所述divider模块包括分频电路，用以产生分频时钟；还包括syn_occ模块，所述syn_occ模块控制分频时钟的脉冲输出；pulse_ctrl模块输出clock_out作为芯片分频电路的参考时钟；故障测试时，pulse_ctrl模块的输出信号div_rstn控制分频电路的复位端rstn，并参与sync_occ模块的测试时钟产生。本发明实现了同步时钟之间电路跳变故障的测试，且测试模式下的时钟路径和芯片功能模式下的时钟路径完全一致，待测电路与功能电路一致，减少了测试逻辑的电路面积和时序收敛开销，提高了电路故障的测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 同步 时钟 之间 电路 故障测试 方法 | ||
【主权项】：
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