[发明专利]一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法

说明书

本发明公开了一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法，在芯片同步时钟测试电路中，在PLL输出时钟后面连接pulse_ctrl模块，所述pulse_ctrl模块产生内部时钟和复位；包括divider模块，所述divider模块包括分频电路，用以产生分频时钟；还包括syn_occ模块，所述syn_occ模块控制分频时钟的脉冲输出；pulse_ctrl模块输出clock_out作为芯片分频电路的参考时钟；故障测试时，pulse_ctrl模块的输出信号div_rstn控制分频电路的复位端rstn，并参与sync_occ模块的测试时钟产生。本发明实现了同步时钟之间电路跳变故障的测试，且测试模式下的时钟路径和芯片功能模式下的时钟路径完全一致，待测电路与功能电路一致，减少了测试逻辑的电路面积和时序收敛开销，提高了电路故障的测试覆盖率。

技术领域

本发明公开了一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法，涉及集成电路故障测试技术领域。

背景技术

随着集成电路设计和工艺的高速发展，SOC芯片规模越来越大，所需要的时钟数量也越来越多。典型的时钟结构是由PLL输出一个高频时钟，然后通过对该高频时钟进行各种系数的分频，从而得到各个功能模块所需要的工作频率。各个分频时钟的频率不一样（比如2分频和3分频），但是它们有可能是同步时钟，这些同步时钟域之间的逻辑通路需要测试。

在可测试性设计中，通常不同频率的时钟使用各自独立的片上时钟控制器（OCC，on-chip clock controller）。由于独立OCC输出的时钟，它们之间的相位关系不具备确定性，因此不同时钟域之间的电路跳变故障（transition fault）无法测试。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对现有技术的缺陷，提供一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法，用以克服现有可测试性设计中同步时钟域之间电路跳变故障的测试问题，实现了同步时钟之间的电路跳变故障测试。

本发明为解决上述技术问题采用以下技术方案：

一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法，所述测试方法中，在芯片同步时钟测试电路中，在PLL输出时钟后面连接pulse_ctrl模块，所述pulse_ctrl模块产生内部时钟和复位；

测试电路中还包括divider模块，所述divider模块包括分频电路，用以产生分频时钟；

测试电路中还包括syn_occ模块，所述syn_occ模块控制分频时钟的脉冲输出；

pulse_ctrl模块输出clock_out作为芯片分频电路的参考时钟；

故障测试时，pulse_ctrl模块的输出信号div_rstn控制分频电路的复位端rstn，并参与sync_occ模块的测试时钟产生。

作为进一步优选方案，所述pulse_ctrl模块：在扫描链移位阶段div_rstn输出为0；在扫描链移位阶段clock_out输出为0；在扫描链捕获阶段div_rstn输出从0变为1的时刻可调。所述pulse_ctrl模块中，pulse_ctrl/clock_out输出脉冲个数可配置。

作为进一步优选方案，所述pulse_ctrl模块中，pulse_ctrl/div_rstn变为1之后到pulse_ctrl/clock_out开始输出的时间间隔可配置。

作为进一步优选方案，所述pulse_ctrl模块中：在扫描链捕获阶段，所有分频电路的复位和参考时钟输入在同一时刻发生，输出时钟之间的相位关系确定；在扫描链捕获阶段，pulse_ctrl/div_rstn控制syn_occ的工作，pulse_ctrl/div_rstn在时钟沿之前稳定，不进行时钟同步和时序约束。

作为进一步优选方案，所述pulse_ctrl模块中：pulse_ctrl电路扫描链移位使能信号不进行时钟约束。