[发明专利]晶体管的退化结果的提取方法、可靠性分析方法在审
| 申请号： | 202310035416.6 | 申请日： | 2023-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN116011364A | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 汤正光;王禹;李聪;游海龙;戴勇;白耿 | 申请（专利权）人： | 深圳国微福芯技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/327 | 分类号： | G06F30/327;G06F30/33;G06F119/02 |
| 代理公司： | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人： | 尹彦 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区福保街道福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体管的退化结果的提取方法、可靠性分析方法。其中电路设计的晶体管的退化结果的提取方法，包括：对选定的标准单元库的标准单元的网表文件进行解析，得到标准单元的晶体管的详细信息并推导得到标准单元的信号的逻辑关系以及晶体管三个端口的电平与晶体管退化的关系；再推导得到每个晶体管的退化逻辑关系式；求解得到所有晶体管的退化逻辑关系式为真时的信号电平组合情况；根据输入的工作激励对电路设计进行仿真得到信号的统计信息；最后计算得到每一个晶体管的退化时间；将晶体管的退化时间代入到可靠性模型得到晶体管的退化结果。本发明对退化应力的提取准确度可以更加逼近SPICE级的仿真。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 退化 结果 提取 方法 可靠性分析 | ||
【主权项】：
暂无信息
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