[发明专利]一种基于ATE的射频识别芯片的电特性测试方法在审
| 申请号： | 202310011381.2 | 申请日： | 2023-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN116155407A | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 刘鹏;崔臣臣;孙宇凯;王尧;王志浩;王君从;岳红维;马迅;王康;胡美玲;刘长龙;崔海龙;陈丹熠;田爱国 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/10;G01R31/317;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆;曲佳颖 |
| 地址： | 050081 河北省石家*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明属于集成电路测试领域，目的是针对射频识别芯片提供一种基于ATE的电特性测试方法。具体发明内容包括反向链路频率自动调整算法、初始化数据格式自动转换算法、ID号自动编排灌注算法、加密数据格式自动转换算法和射频功能验证用协议算法等5种算法模块。该方法可以同时满足射频识别芯片的数字逻辑模块和射频模块两部分的测试，在不需添加任何外围协议模块的情况下，针对不同通信协议标准的射频识别芯片，只利用ATE通用数字板卡、射频板卡和模拟板卡外加相应编程算法便可以完成其电特性参数的测试，使得数字逻辑功能和射频功能的测试一次性完成，具有节约测试套件成本、节约测试时间、针对不同通信协议标准的方便易修改等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate 射频 识别 芯片 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
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