[实用新型]一种IC芯片测试治具有效
| 申请号： | 202223491431.1 | 申请日： | 2022-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN219142927U | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 张学伟 | 申请（专利权）人： | 天津芯元微科电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区自贸试验区(空港经济区)东三道安和*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及IC芯片技术领域，尤其是一种IC芯片测试治具，包括底座，所述底座的内部中间设置有角度锁定装置，所述角度锁定装置的顶部设置有工作台，所述工作台的顶部两侧均固接有竖板，所述竖板的外壁与弹簧的一端相固接，所述弹簧的另一端固接有固定板，所述固定板的底部通过滑槽与工作台滑动连接，所述固定板的一侧与IC芯片紧密贴合。通过转筒和第二直齿轮之间的配合，转筒会通过滑槽使T形齿条向右移动，T形齿条会使逆时针转动，第二直齿轮带动工作台转动，工作台通过固定板带动IC芯片转动，通过驱动电机本身自带的自锁能力，使得IC芯片停在指定角度时，完成角度锁定功能，不在需要使用者持续施加外力，从而便于对IC芯片进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 | ||
【主权项】：
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