[实用新型]一种IC芯片测试治具

说明书

本实用新型涉及IC芯片技术领域，尤其是一种IC芯片测试治具，包括底座，所述底座的内部中间设置有角度锁定装置，所述角度锁定装置的顶部设置有工作台，所述工作台的顶部两侧均固接有竖板，所述竖板的外壁与弹簧的一端相固接，所述弹簧的另一端固接有固定板，所述固定板的底部通过滑槽与工作台滑动连接，所述固定板的一侧与IC芯片紧密贴合。通过转筒和第二直齿轮之间的配合，转筒会通过滑槽使T形齿条向右移动，T形齿条会使逆时针转动，第二直齿轮带动工作台转动，工作台通过固定板带动IC芯片转动，通过驱动电机本身自带的自锁能力，使得IC芯片停在指定角度时，完成角度锁定功能，不在需要使用者持续施加外力，从而便于对IC芯片进行检测。

技术领域

本实用新型涉及IC芯片技术领域，具体为一种IC芯片测试治具。

背景技术

IC芯片测试治具是在PCB制板工艺中用来检测PCB的各个电气特性的一种自动化工具，主要应用于PCB测试、焊接和返修工作。

例如授权公告号为CN211696446U的一种IC芯片测试治具，虽然上述文件能够对方便测试者对芯片进行检测，但是在上述文件中的IC芯片测试治具使用时，当需要IC芯片进行角度调节时，需要人为手动转动V型块，由于弹簧的不稳定性，无法在IC芯片发生转动后，对IC芯片进行角度锁定，这就导致使用者需要持续的向V型块施加偏转的力，用以保证IC芯片处于偏转状态，此过程不便于使用者对IC芯片进行检测。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决上述文件中的IC芯片测试治具，无法在IC芯片发生转动后，对IC芯片进行角度锁定，导致使用者需要持续的向V型块施加偏转的力，用以保证IC芯片处于偏转状态，此过程不便于使用者对IC芯片进行检测，而提出的一种IC芯片测试治具。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

设计一种IC芯片测试治具，包括底座，所述底座的内部中间设置有角度锁定装置，所述角度锁定装置的顶部设置有工作台，所述工作台的顶部两侧均固接有竖板，所述竖板的外壁与弹簧的一端相固接，所述弹簧的另一端固接有固定板，所述固定板的底部通过滑槽与工作台滑动连接，所述固定板的一侧与IC芯片紧密贴合。

优选的，所述角度锁定装置包括驱动电机，所述驱动电机的外壁通过支架与底座相固接，所述驱动电机的输出端固接有转筒，所述转筒的外壁通过滑槽与T形齿条滑动连接，所述T形齿条的顶部与第二直齿轮啮合连接，所述第二直齿轮的前端与工作台相固接。

优选的，所述第二直齿轮的后端通过转轴与横板转动连接，所述横板的两端均与底座相固接。

优选的，所述T形齿条的两端均通过滑槽与套筒滑动连接，所述套筒的一端与底座相固接。

优选的，所述底座的前端安装有柜门，所述底座的右侧安装有检测控制器，所述检测控制器的外壁通过电线与IC芯片电连接。

本实用新型提出的一种IC芯片测试治具，有益效果在于：通过驱动电机、转筒、T形齿条和第二直齿轮之间的配合，接通驱动电机的外接电源，使得驱动电机的输出端带动转筒转动，转筒会通过滑槽使T形齿条向右移动，T形齿条会使逆时针转动，第二直齿轮带动工作台转动，工作台通过固定板带动IC芯片转动，通过驱动电机本身自带的自锁能力，使得IC芯片停在指定角度时，完成角度锁定功能，不在需要使用者持续施加外力，便于对IC芯片进行检测。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为实施例2内部连接结构主视平面示意图；

图3为图2中A处连接结构示意图；

图4为实施例1连接结构示意图；

图5为图4中B处连接结构示意图。