[实用新型]一种IC芯片测试治具有效
| 申请号： | 202223491431.1 | 申请日： | 2022-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN219142927U | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 张学伟 | 申请（专利权）人： | 天津芯元微科电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区自贸试验区(空港经济区)东三道安和*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 | ||
1.一种IC芯片测试治具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的内部中间设置有角度锁定装置，所述角度锁定装置的顶部设置有工作台(6)，所述工作台(6)的顶部两侧均固接有竖板(7)，所述竖板(7)的外壁与弹簧(8)的一端相固接，所述弹簧(8)的另一端固接有固定板(9)，所述固定板(9)的底部通过滑槽与工作台(6)滑动连接，所述固定板(9)的一侧与IC芯片(10)紧密贴合。
2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述角度锁定装置包括驱动电机(401)，所述驱动电机(401)的外壁通过支架与底座(1)相固接，所述驱动电机(401)的输出端固接有转筒(402)，所述转筒(402)的外壁通过滑槽与T形齿条(403)滑动连接，所述T形齿条(403)的顶部与第二直齿轮(404)啮合连接，所述第二直齿轮(404)的前端与工作台(6)相固接。
3.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述第二直齿轮(404)的后端通过转轴与横板(12)转动连接，所述横板(12)的两端均与底座(1)相固接。
4.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述T形齿条(403)的两端均通过滑槽与套筒(2)滑动连接，所述套筒(2)的一端与底座(1)相固接。
5.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述底座(1)的前端安装有柜门(11)，所述底座(1)的右侧安装有检测控制器(5)，所述检测控制器(5)的外壁通过电线与IC芯片(10)电连接。
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