[实用新型]一种芯片的性能检测装置

摘要

本实用新型提供一种芯片的性能检测装置，涉及芯片检测技术领域，包括底板；所述底板顶端面后方中间位置与撑架底部中间位置固定连接，撑架为T字形状，且撑架前端中间位置设置转动柱，撑架的后端位置固定连接有电机，电机的转轴前端位置与转盘后端位置固定连接。通过转盘插杆与摆动架条形槽的配合以及撑架转动柱对摆动架的限位，使其摆动架进行摆动，再由摆动架上端扇形齿轮与滑动块下端齿条的配合，带动滑动块进行横向位置的往复滑动，进而使其限制架的整体进行横向位置的往复滑动。解决了芯片在进行常规检测的时候只是检测是否能处于正常使用状态，并未对其使用环境进行深入检测试验，造成芯片在使用的过程中受到环境因素干扰损坏的问题。