[实用新型]一种芯片的性能检测装置

说明书

本实用新型提供一种芯片的性能检测装置，涉及芯片检测技术领域，包括底板；所述底板顶端面后方中间位置与撑架底部中间位置固定连接，撑架为T字形状，且撑架前端中间位置设置转动柱，撑架的后端位置固定连接有电机，电机的转轴前端位置与转盘后端位置固定连接。通过转盘插杆与摆动架条形槽的配合以及撑架转动柱对摆动架的限位，使其摆动架进行摆动，再由摆动架上端扇形齿轮与滑动块下端齿条的配合，带动滑动块进行横向位置的往复滑动，进而使其限制架的整体进行横向位置的往复滑动。解决了芯片在进行常规检测的时候只是检测是否能处于正常使用状态，并未对其使用环境进行深入检测试验，造成芯片在使用的过程中受到环境因素干扰损坏的问题。

技术领域

本实用新型属于芯片检测技术领域，更具体地说，特别涉及一种芯片的性能检测装置。

背景技术

随着电子化工程的高速发展，各种电子元器件的应用越来越广，芯片是一种常用的电子元器件，芯片组件的可靠度与产品的合格率会影响到各种电子产品在使用上的质量及性能表现，因此需要对芯片的自身性能进行相对的检测。

对于目前芯片的性能检测还存在以下不足：

芯片在进行常规检测的时候只是检测是否能处于正常使用状态，并未对其使用环境进行深入检测试验，导致芯片在使用的过程中，受到环境因素干扰造成损坏。

于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种芯片的性能检测装置，以期达到更具有更加实用价值性的目的。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种芯片的性能检测装置，以解决现有的芯片在进行常规检测的时候只是检测是否能处于正常使用状态，并未对其使用环境进行深入检测试验，造成芯片在使用的过程中受到环境因素干扰损坏的问题。

本实用新型一种芯片的性能检测装置的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种芯片的性能检测装置，包括底板；所述底板顶端面后方中间位置与撑架底部中间位置固定连接，撑架为T字形状，且撑架前端中间位置设置转动柱，撑架的后端位置固定连接有电机，电机的转轴前端位置与转盘后端位置固定连接，转盘位于撑架前端下方位置，撑架的前端上方位置与滑动块后端位置滑动连接，滑动块的顶部中间位置固定连接有限制架，限制架的顶部位置与储备架底部后端位置相贴合，储备架顶部后端位置与夹板底部位置相贴合，储备架位于底板中间上方位置。

进一步的，所述转盘的前端面边缘位置设置有插杆，撑架前端中间的转动柱与摆动架中上方位置转动连接。

进一步的，所述摆动架的上端位置为扇形齿轮，且摆动架的下端位置开设有条形槽，转盘的插杆位于摆动架下端的条形槽内。

进一步的，所述滑动块的下端位置设置有齿条，且滑动块下端齿条与摆动架上端扇形齿轮相啮合。

进一步的，所述限制架的中间位置转动连接有螺纹调节杆，螺纹调节杆的顶部位置设置有把手。

进一步的，所述螺纹调节杆转动连接在夹板中间设置的螺纹孔内，且夹板的后端位置与限制架内部后端位置相贴合。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

当需要对芯片进行检测时，首先将所需进行检测的芯片放置到储备架内部位置，接下来启动电机带动转盘进行转动，通过转盘插杆与摆动架条形槽的配合以及撑架转动柱对摆动架的限位，使其摆动架进行摆动，再由摆动架上端扇形齿轮与滑动块下端齿条的配合，带动滑动块进行横向位置的往复滑动，进而使其限制架的整体进行横向位置的往复滑动，这时限制架固定的储备架也会做出横向往复滑动的步骤，储备架内部放置的芯片将会进行震动以及摩擦式的检测，将芯片从储备架内取出连通电源即可检测芯片自身抗震摩擦的性能。

转动螺纹调节杆来调节夹板的位置高度，使其夹板取消对储备架的夹合，将储备架进行拆卸，便于将人员将储备架内部的芯片进行取出。