[实用新型]高精度SiP激光打标检测治具有效
| 申请号： | 202221707515.1 | 申请日： | 2022-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN217541728U | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 彭勇;鲍雨;韩毅;韩彦召 | 申请（专利权）人： | 池州华宇电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142 | 代理人： | 管秋香 |
| 地址： | 247000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种高精度SiP激光打标检测治具，涉及检测治具技术领域。所述检测治具包括：底模和盖板；底模的顶端开设有向下延伸的盖板槽，盖板槽的四周设置有若干定位柱；盖板采用透明的高分子材质，盖板的底面印刻有参照线格，盖板开设有与定位柱一一对应的定位缺口；盖板将待检件压制在盖板槽内，定位柱与定位缺口匹配确保了盖板的定位精准，利用参照线格的辅助，通过透明的盖板对待检件激光打标位置进行检测，大幅度提升了检测治具的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 sip 激光 检测 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于池州华宇电子科技股份有限公司，未经池州华宇电子科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202221707515.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种高氨氮废水的脱氮设备
- 下一篇：引线键合压板治具
