[实用新型]高精度SiP激光打标检测治具有效
| 申请号： | 202221707515.1 | 申请日： | 2022-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN217541728U | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 彭勇;鲍雨;韩毅;韩彦召 | 申请（专利权）人： | 池州华宇电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142 | 代理人： | 管秋香 |
| 地址： | 247000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 高精度 sip 激光 检测 | ||
1.一种高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述检测治具包括：底模(10)和盖板(20)；
所述底模(10)的顶端开设有向下延伸的盖板槽(11)，盖板槽(11)的四周设置有若干定位柱(12)；
所述盖板(20)采用透明的高分子材质，盖板(20)的底面印刻有参照线格(21)，盖板(20)开设有与定位柱(12)一一对应的定位缺口(22)。
2.如权利要求1所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述盖板槽(11)由下至上向外拔模。
3.如权利要求1所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述盖板槽(11)内开设有向下延伸的压槽(30)，所述压槽(30)内设置有若干定位凸起(31)，待检件形状与压槽(30)适配，待检件定位孔与定位凸起(31)一一对应，待检件放置在压槽(30)内，待检件定位孔套设在定位凸起(31)上。
4.如权利要求3所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述压槽(30)的边缘开设有延伸槽(32)，所述压槽(30)和延伸槽(32)内设置有形状适配的压制框(40)，所述压制框(40)将待检件压制固定在压槽(30)内。
5.如权利要求4所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述压制框(40)开设有定位凸起(31)一一对应的定位通孔(41)。
6.如权利要求4所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述压槽(30)和延伸槽(32)的边缘开设有扣槽(33)。
7.如权利要求3所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述盖板(20)开设有与定位凸起(31)一一对应的避让孔(23)。
8.如权利要求3所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述定位柱(12)和定位凸起(31)的顶端均倒圆角。
9.如权利要求3～8任一所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述底模(10)的四周开设有切槽(13)，所述切槽(13)的槽底高度低于压槽(30)的槽底。
10.如权利要求9所述的高精度SiP激光打标检测治具，其特征在于，所述切槽(13)的顶部倒圆角。
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