[发明专利]静电释放测试的控制方法、射频前端芯片及相关设备在审
| 申请号： | 202211715529.2 | 申请日： | 2022-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN116148567A | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 叶宏伟;林震东;孟宪东;张尚斌;赵启明 | 申请（专利权）人： | 深圳天珑无线科技有限公司;深圳市天珑移动技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 陈婷 |
| 地址： | 518053 广东省深圳市南山区西丽街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种静电释放测试的控制方法，该方法用于射频前端芯片，所述射频前端芯片与天线连接，该方法包括：确定所述射频前端芯片中与所述天线接触的至少一个引脚；对于所述至少一个引脚中的每个引脚，控制执行预设次数的静电测试，以得到每个引脚的接触静电电压等级。上述方案，通过对射频前端芯片中所有与天线接触的引脚进行静电测试，确定每个引脚的接触静电电压等级，根据静电等级的结果对每个引脚进行相应的静电防护措施，避免了对所有引脚做静电防护措施，节约材料，简化静电防护的过程。 | ||
| 搜索关键词： | 静电 释放 测试 控制 方法 射频 前端 芯片 相关 设备 | ||
【主权项】：
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