[发明专利]一种芯片上电检测电路、方法及FPGA芯片在审
| 申请号： | 202211698063.X | 申请日： | 2022-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN116224018A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 韦援丰;胡友德 | 申请（专利权）人： | 中科亿海微电子科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/00;G01R19/165 |
| 代理公司： | 江苏坤象律师事务所 32393 | 代理人： | 朱冀梁;夏纯 |
| 地址： | 215127 江苏省苏州市吴中*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片上电检测电路，包括：内核电源模块、上电检测模块、第一IO电源模块和第二IO电源模块；所述上电检测模块包括第一电路节点、第二电路节点和第一开关单元；所述第一开关单元用于控制所述第一电路节点、第二电路节点的逻辑电平同步，并与所述上电检测模块的输出逻辑电平相反。为同步检测内核电源与IO电源上电状态提供了解决方案，能够避免在内核电源与IO电源其中存在任一个未达到正常工作电压时触发芯片启动工作，保障了芯片工作的稳定性和可靠性。本发明还提供的芯片上电检测方法、FPGA芯片具有相应优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 检测 电路 方法 fpga | ||
【主权项】：
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