[发明专利]晶圆级器件封装结构、制作方法及封装体结构在审

专利信息
申请号: 202211693657.1 申请日: 2022-12-28
公开(公告)号: CN115954280A 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 李岩;种兆永;吴炳财 申请(专利权)人: 泉州市三安集成电路有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L21/60;H01L21/768;H01L21/78;H01L23/31;H01L23/488;H01L23/498;H01L25/16;H01L25/18
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 连耀忠
地址: 362000 福建省泉*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种晶圆级器件封装结构、制作方法及封装体结构,该晶圆级器件封装结构包括若干个第一器件、围挡层、封盖层、塑封层和引出部,第一器件包括声表面波滤波器,声表面波滤波器的正面设有功能区和位于功能区外侧的焊盘,其他第一器件的正面设有焊盘,塑封层包覆若干第一器件,并使塑封层的正面与第一器件的正面平齐,围挡层设于塑封层和第一器件的正面,并具有裸露焊盘的第一通孔和裸露功能区的第二通孔,封盖层设于围挡层上,并具有与第一通孔配合相通的第三通孔,封盖层与第二通孔围合形成空腔,第一通孔和第三通孔内填充金属构成与焊盘相接的导电结构,引出部与导电结构连接,实现轻薄化和高度集成化的封装。
搜索关键词: 晶圆级 器件 封装 结构 制作方法
【主权项】:
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