[发明专利]半导体结构及其制作方法以及电容器在审
申请号: | 202211642774.5 | 申请日: | 2022-12-20 |
公开(公告)号: | CN115884672A | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 曹瑞霞;胡杏;刘天建;李琳瑜 | 申请(专利权)人: | 湖北三维半导体集成创新中心有限责任公司 |
主分类号: | H10N97/00 | 分类号: | H10N97/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 胡亮;浦彩华 |
地址: | 430000 湖北省武汉市武汉东湖新技*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开实施例公开了一种半导体结构及其制作方法,所述半导体结构包括:第一电极,第一电极具有相对设置的第一端和第二端;第一介电层,覆盖第一电极的部分顶表面和第二端的侧面;第二电极,位于第一介电层上,覆盖第一电极的部分顶表面和第二端的侧面;其中,第二电极和第一介电层显露第一端,第一电极和第二电极通过第一介电层电隔离;第二电极靠近第二端的一端包括第一台阶面和第二台阶面,第一台阶面的平面高度小于或者等于第二台阶面的平面高度;第一导电通道,位于第一端上,与第一端电连接;第二导电通道,位于第一台阶面上,与第一台阶面电连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 及其 制作方法 以及 电容器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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