[发明专利]液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202211361738.1 | 申请日： | 2022-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN115713491A | 公开（公告）日： | 2023-02-24 |
| 发明（设计）人： | 郑国荣;胡斌;胡一爽 | 申请（专利权）人： | 深圳市鑫信腾科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06T5/30;G06V10/762 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 赵倩 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区留仙三*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备，涉及液晶显示面板检测技术领域，其中，该方法包括：获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层；对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域；通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，然后将确定的显著度中显著度最大的对应的目标层确定为缺陷所在的层。本申请提供的技术方案可以提高液晶显示面板缺陷检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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