[发明专利]液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备

说明书

本申请提供一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备，涉及液晶显示面板检测技术领域，其中，该方法包括：获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层；对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域；通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，然后将确定的显著度中显著度最大的对应的目标层确定为缺陷所在的层。本申请提供的技术方案可以提高液晶显示面板缺陷检测的准确性。

技术领域

本申请涉及液晶显示面板缺陷检测技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及设备。

背景技术

得益于半导体技术、液晶材料技术和主动发光技术的完美结合，液晶显示器已迅速成为当前显示市场的主流，而液晶显示面板的质量关系到液晶显示器整体性能的高低。

液晶显示面板在生产过程中，可能会存在一些缺陷，比如，面板内部结构层的结构缺陷，在面板贴合过程中由于灰尘等异物进入而产生的贴合异物缺陷，这些面板内部缺陷都会导致次品的产生。为了确保产品质量，需要对液晶显示面板进行缺陷检测。

除了液晶显示面板内部缺陷外，面板表面可能会附着灰尘、脏污等，这种附着物并不会影响面板的品质，但附着物的存在很容易被现有的检测方法判定为面板的内部缺陷，降低缺陷检测结果的准确性。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备，用于提高面板缺陷检测结果的准确度。

为了实现上述目的，第一方面，本申请实施例提供液晶显示面板缺陷检测方法，包括：

获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层；

对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域；

通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，然后将确定的显著度中显著度最大的对应的目标层确定为缺陷所在的层。

本实施例提供的液晶显示面板缺陷检测方法，在进行面板缺陷检测时，电子设备可以获取相机拍摄的面板上表面层和内部结构层的图像，从图像中提取缺陷的区域，并判定缺陷所在的层，这样就可以区分缺陷是位于面板表面还是面板内部，从而提高缺陷检测的准确性，而且还可以更准确地定位出缺陷所在的层。

在第一方面的一种可能的实施方式中，获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层，包括：

获取相机在第一成像位置针对液晶显示面板的上表面层拍摄的图像，在第一成像位置，相机的聚焦点位于上表面层，且拍摄的图像质量满足目标要求；

根据各目标层中相邻层之间的物理距离，控制相机依次朝各结构层移动，获取相机在聚焦点移动至每个结构层时拍摄的图像。

通过上述实施方式，不仅可以获取液晶显示面板多个目标层的图像，还可以提高相机拍摄图像的成像效果，为后续图像处理提供符合目标要求的图像，从而提高了缺陷检测的效率和检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实施方式中，第一成像位置是根据预先确定的相机与液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的。

通过上述实施方式，可以提高获取图像的效率和图像的成像效果，降低了后续缺陷识别和提取的难度，从而可以提高检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实现方式中，相机与液晶显示面板之间的相对距离可以是由距离传感器测量确定的。

通过上述实施过程，可以准确获取相机与液晶显示面板之间的距离，减小检测过程中的距离误差，从而提高检测结果的准确性。