[发明专利]液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种液晶显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个所述目标层包括所述液晶显示面板的上表面层和多个结构层；

对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域；

根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，包括：

获取所述相机在第一成像位置针对所述液晶显示面板的上表面层拍摄的图像，在所述第一成像位置，所述相机的聚焦点位于所述上表面层，且拍摄的图像质量满足目标要求；

根据各所述目标层中相邻层之间的物理距离，控制所述相机依次朝各所述结构层移动，获取所述相机在聚焦点移动至每个所述结构层时拍摄的图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一成像位置是根据预先确定的所述相机与液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域，包括：

对于每个目标层对应的图像，对所述图像进行图像增强，得到增强图像；

对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域；

滤除所述第一缺陷区域中的干扰区域，得到所述目标层对应的缺陷区域。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层，包括：

对于提取出缺陷区域的每个目标层，确定所述目标层对应的缺陷区域的能量梯度与所述目标层对应的图像的能量梯度的比值；其中，每个目标层对应的所述比值用于指示所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度；

将确定的比值中最大比值对应的目标层确定为缺陷所在的层。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若确定所述缺陷位于液晶层，则根据所述液晶层的图像，确定所述缺陷是否为灯珠缺失；

若确定所述缺陷位于所述液晶层之外的其他结构层，则确定所述缺陷的大小。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述液晶层的图像，确定所述缺陷是否为灯珠缺失，包括：

对所述液晶层的图像进行通道分离，得到多幅单通道图像；

对于每幅单通道图像进行缺陷区域提取，得到每幅单通道图像对应的缺陷区域；

根据各幅单通道图像对应的缺陷区域的面积，确定所述缺陷是否为灯珠缺失。

8.一种液晶显示面板缺陷检测装置，其特征在于，包括：

控制模块，用于控制相机按照各结构层中相邻层之间的物理距离进行运动，使相机的聚焦点依次位于上表面层和每个结构层，并拍摄上表面层和各结构层的图像；

获取模块，用于获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个所述目标层包括所述液晶显示面板的上表面层和多个结构层；

提取模块，用于对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域；

确定模块，用于根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于在调用所述计算机程序时执行如权利要求1-7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的方法。