[发明专利]一种全自动芯片检测设备在审
申请号: | 202211253499.8 | 申请日: | 2022-10-13 |
公开(公告)号: | CN115555297A | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 洪育铠 | 申请(专利权)人: | 宏齐光电子(深圳)有限公司 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344;B07C5/36;B07C5/02 |
代理公司: | 深圳利联知识产权代理事务所(普通合伙) 44866 | 代理人: | 蒋勇华 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区石*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提出一种全自动芯片检测设备,包括第一机械手、上料初检机构、控制器、转动送料机构、第一转动拾料机构、盘型通电检测机构、线性拾料机构、第二转动拾料机构、第一输送带、两个第二机械手,第一转动拾料机构间歇转动并陆续将芯片物料从转动送料机构上拾取并输送至盘型通电检测机构上,盘型通电检测机构间歇转动并对芯片物料进行检测,将合格的芯片物料输送并停留在第二转动拾料机构的一侧,将不合格的芯片物料输送并停留在线性拾料机构的一侧;本发明采用转盘式的送料结构,提升了芯片物料的检测效率;盘型通电检测机构采用了夹锁机构来辅助芯片物料的放置,防止震动影响了芯片物料的放置位置进而影响电连接效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 全自动 芯片 检测 设备 | ||
【主权项】:
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