[发明专利]一种全自动芯片检测设备

权利要求书

1.一种全自动芯片检测设备，其特征在于，包括第一机械手、上料初检机构、控制器、转动送料机构、第一转动拾料机构、盘型通电检测机构、线性拾料机构、第二转动拾料机构、第一输送带、两个第二机械手，所述第一机械手位于所述上料初检机构一侧，所述控制器位于所述上料初检机构另一侧并分别与所述第一机械手、所述上料初检机构、所述转动送料机构、所述第一转动拾料机构、所述盘型通电检测机构、所述线性拾料机构、所述第二转动拾料机构、所述第一输送带、两个所述第二机械手电连接，所述上料初检机构、所述转动送料机构、所述第一转动拾料机构、所述盘型通电检测机构、所述第二转动拾料机构、所述第一输送带依次排列于同一直线上并首尾衔接，所述第一转动拾料机构位于所述转动送料机构、所述盘型通电检测机构上方，所述第二转动拾料机构位于所述盘型通电检测机构、所述第一输送带上方，所述线性拾料机构位于所述盘型通电检测机构的一侧且朝向所述盘型通电检测机构，两个所述第二机械手分别放置于所述第一输送带一端的两侧并远离所述第二转动拾料机构，所述第一转动拾料机构间歇转动并陆续将芯片物料从转动送料机构上拾取并输送至盘型通电检测机构上，所述盘型通电检测机构间歇转动并对芯片物料进行检测，将合格的芯片物料输送并停留在第二转动拾料机构的一侧，将不合格的芯片物料输送并停留在线性拾料机构的一侧。

2.根据权利要求1所述的全自动芯片检测设备，其特征在于，所述上料初检机构包括两轴运动机床、平移机构、检测拾取头，所述两轴运动机床上设有移动臂，所述检测拾取头固定连接于所述移动臂的下方，所述两轴运动机床上设有固定平台，所述固定平台位于所述移动臂下方，所述平移机构固定连接于所述固定平台上，所述检测拾取头朝向所述平移机构，所述两轴运动机床、平移机构、检测拾取头均与所述控制器电连接。

3.根据权利要求2所述的全自动芯片检测设备，其特征在于，所述检测拾取头包括吸附装置、高清摄像机，所述高清摄像机固定连接于所述吸附装置的一侧，所述高清摄像机的镜头下方设有用于补光的补光灯，所述吸附装置、所述高清摄像机、所述补光灯均与所述控制器电连接。

4.根据权利要求3所述的全自动芯片检测设备，其特征在于，所述吸附装置上设有多个吸嘴、小型摄像头，多个所述吸嘴周向均布，所述小型摄像头位于多个周向均布的所述吸嘴之间，多个所述吸嘴、所述小型摄像头均朝向所述平移机构。

5.根据权利要求1所述的全自动芯片检测设备，其特征在于，所述转动送料机构包括送料盘、第一电机、第一支撑架、转角检测装置，所述送料盘转动连接于所述第一支撑架的一端上，所述第一支撑架上设有支撑板，所述第一电机固定连接于所述支撑板上并凸出于所述支撑板，所述第一电机的转轴上设有传动齿轮，所述送料盘的底部设有环形齿轮，所述传动齿轮与所述环形齿轮啮合连接，所述转角检测装置的一端与所述第一支撑架固定连接且另一端贯穿所述送料盘的圆心并朝向所述送料盘，所述第一电机、所述转角检测装置均与所述控制器电连接。

6.根据权利要求5所述的全自动芯片检测设备，其特征在于，所述转角检测装置上设有红外传感器，所述红外传感器与所述控制器电连接，所述送料盘上设有多个放料槽、多个与所述放料槽数量相等的标记块，多个所述放料槽周向均布，多个所述标记块周向均布，多个所述放料槽分别与多个所述标记块一一对应，多个所述放料槽周向均布所形成的圆直径大于多个所述标记块周向均布所形成的圆直径，所述红外传感器从所述送料盘的圆心朝向所述标记块。

7.根据权利要求1所述的全自动芯片检测设备，其特征在于，所述第一转动拾料机构包括放置架、第一升降电缸、转动电机、第一固定盘、多个拾料装置，所述第一升降电缸贯穿并固定连接于所述放置架的中部并朝向下方，所述转动电机固定连接于所述第一升降电缸的升降杆上，所述第一固定盘的中心固定连接于所述转动电机的转轴上，多个所述拾料装置周向均布固定于所述第一固定盘上并贯穿所述第一固定盘且朝向下方，所述第一升降电缸、所述转动电机、多个所述拾料装置均与所述控制器电连接。