[发明专利]一种全自动芯片检测设备

说明书

本发明提出一种全自动芯片检测设备，包括第一机械手、上料初检机构、控制器、转动送料机构、第一转动拾料机构、盘型通电检测机构、线性拾料机构、第二转动拾料机构、第一输送带、两个第二机械手，第一转动拾料机构间歇转动并陆续将芯片物料从转动送料机构上拾取并输送至盘型通电检测机构上，盘型通电检测机构间歇转动并对芯片物料进行检测，将合格的芯片物料输送并停留在第二转动拾料机构的一侧，将不合格的芯片物料输送并停留在线性拾料机构的一侧；本发明采用转盘式的送料结构，提升了芯片物料的检测效率；盘型通电检测机构采用了夹锁机构来辅助芯片物料的放置，防止震动影响了芯片物料的放置位置进而影响电连接效果。

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种全自动芯片检测设备。

背景技术

芯片在加工时会进行一系列的检查，从而检测出一些缺陷，对具有缺陷的芯片进行处理，可以避免材料的浪费，以及废品的产生。

芯片生产中，通常需要人工对料盘内的芯片进行检测，并且需要目视判断产品是否损坏，受限于人工检测效率较低，进而影响了产品的检测速率。

在芯片物料进行通电检测时，需要将芯片放置在一个具备很多导电引脚的电检槽内进行检测，以检查芯片物料是否能够正常使用，而放置的过程均是由机械手将芯片物料表面吸附，然后逐个放置于电检槽内，而通电检测的过程需要耗费一定的时间，待上一个芯片物料检测完毕后才能放置下一个芯片物料，多个芯片物料的等待则耗费大量生产时间，降低了产线的检测效率，不利于产线的高效生产。

为此，有必要提出一种全自动芯片检测设备来加快芯片的检测效率，进而提高产线对芯片的生产效率。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出一种全自动芯片检测设备来加快芯片的检测效率，进而提高产线对芯片的生产效率。

本发明通过以下技术方案实现的：

本发明提出一种全自动芯片检测设备，包括第一机械手、上料初检机构、控制器、转动送料机构、第一转动拾料机构、盘型通电检测机构、线性拾料机构、第二转动拾料机构、第一输送带、两个第二机械手，所述第一机械手位于所述上料初检机构一侧，所述控制器位于所述上料初检机构另一侧并分别与所述第一机械手、所述上料初检机构、所述转动送料机构、所述第一转动拾料机构、所述盘型通电检测机构、所述线性拾料机构、所述第二转动拾料机构、所述第一输送带、两个所述第二机械手电连接，所述上料初检机构、所述转动送料机构、所述第一转动拾料机构、所述盘型通电检测机构、所述第二转动拾料机构、所述第一输送带依次排列于同一直线上并首尾衔接，所述第一转动拾料机构位于所述转动送料机构、所述盘型通电检测机构上方，所述第二转动拾料机构位于所述盘型通电检测机构、所述第一输送带上方，所述线性拾料机构位于所述盘型通电检测机构的一侧且朝向所述盘型通电检测机构，两个所述第二机械手分别放置于所述第一输送带一端的两侧并远离所述第二转动拾料机构，所述第一转动拾料机构间歇转动并陆续将芯片物料从转动送料机构上拾取并输送至盘型通电检测机构上，所述盘型通电检测机构间歇转动并对芯片物料进行检测，将合格的芯片物料输送并停留在第二转动拾料机构的一侧，将不合格的芯片物料输送并停留在线性拾料机构的一侧。

进一步的，所述上料初检机构包括两轴运动机床、平移机构、检测拾取头，所述两轴运动机床上设有移动臂，所述检测拾取头固定连接于所述移动臂的下方，所述两轴运动机床上设有固定平台，所述固定平台位于所述移动臂下方，所述平移机构固定连接于所述固定平台上，所述检测拾取头朝向所述平移机构，所述两轴运动机床、平移机构、检测拾取头均与所述控制器电连接。

进一步的，所述检测拾取头包括吸附装置、高清摄像机，所述高清摄像机固定连接于所述吸附装置的一侧，所述高清摄像机的镜头下方设有用于补光的补光灯，所述吸附装置、所述高清摄像机、所述补光灯均与所述控制器电连接。

进一步的，所述吸附装置上设有多个吸嘴、小型摄像头，多个所述吸嘴周向均布，所述小型摄像头位于多个周向均布的所述吸嘴之间，多个所述吸嘴、所述小型摄像头均朝向所述平移机构。