[发明专利]一种半导体外观检查治具在审
| 申请号： | 202211180062.6 | 申请日： | 2022-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN115494081A | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 鄢坤;廖伟强;袁伟刚;范庆庆;徐世明 | 申请（专利权）人： | 珠海格力新元电子有限公司;珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/956;G01N21/01;H01L21/67 |
| 代理公司： | 广州京诺知识产权代理有限公司 44407 | 代理人： | 肖金艳 |
| 地址： | 519070 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体外观检查治具，包括盖板和主板，所述盖板和主板铰接，所述主板的开口端设有导向块，所述主板的尾端设有挡块，所述盖板的开口端安装有导向嘴；所述主板设有轨道，所述轨道的一端与挡块连接，轨道的另一端与导向嘴连接，所述轨道的截面为U型。所述盖板和主板通过合页连接。所述盖板和主板采用A5052铝合金制成。本发明的半导体外观检查治具，提高了外观检查人员的工作效率，检查速度更快，操作起来更方便，同时也提高了检查效果，更容易发现不良品，避免不良品流动出去，降低质量事故的出现。通过轨道为U型结构，避开了引脚的位置，使产品可以顺利沿着轨道滑动，尾端安装挡块挡住产品，可微形调整位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 外观 检查 | ||
【主权项】：
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