[发明专利]一种半导体外观检查治具

说明书

本发明公开了一种半导体外观检查治具，包括盖板和主板，所述盖板和主板铰接，所述主板的开口端设有导向块，所述主板的尾端设有挡块，所述盖板的开口端安装有导向嘴；所述主板设有轨道，所述轨道的一端与挡块连接，轨道的另一端与导向嘴连接，所述轨道的截面为U型。所述盖板和主板通过合页连接。所述盖板和主板采用A5052铝合金制成。本发明的半导体外观检查治具，提高了外观检查人员的工作效率，检查速度更快，操作起来更方便，同时也提高了检查效果，更容易发现不良品，避免不良品流动出去，降低质量事故的出现。通过轨道为U型结构，避开了引脚的位置，使产品可以顺利沿着轨道滑动，尾端安装挡块挡住产品，可微形调整位置。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域，特别是一种半导体外观检查治具。

背景技术

在半导体封装设计中，切测完的产品并不能做到百分百都是良品，会有少量的不良品混入其中，例如：引脚歪斜、引脚搭接、缺少印字等等，这些不良品一旦流动出去很容易造成质量事故，因此，在出库前，需要对产品进行外观检查，普通的人工检查非常困难，因为产品已经放进了料管中，如果料管中存在不良品，想要取出来就必须将不良品连带正常品一起倒出来，产品修好后再一颗一颗地装进料管，检查速度慢，效率低，易出错，操作员必须小心翼翼的检查，因为一不注意就会把正常品的引脚碰变形，增加工作量。

因此，需要设计一种半导体外观检查治具来协助操作员更快、更有效的检查产品。

发明内容

为了克服现有技术的上述缺点，本发明提供一种半导体外观检查治具，旨在解决普通人工检查速度慢、效率低和易出错的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种半导体外观检查治具，其特征在于：包括盖板和主板，所述盖板和主板铰接，所述主板的开口端设有导向块，所述主板的尾端设有挡块，所述盖板的开口端安装有导向嘴；所述主板设有轨道，所述轨道的一端与挡块连接，轨道的另一端与导向嘴连接，所述轨道的截面为U型。

作为本发明的进一步改进：所述盖板和主板通过合页连接。

作为本发明的进一步改进：所述盖板和主板采用铝合金制成。

作为本发明的进一步改进：所述盖板采用A5052铝合金制成。通过盖板采用A5052铝合金制成，A5052的质量较轻，方便使用，而且强度高、塑性好，不易磨损，可以抵抗产品模封体的摩擦。

作为本发明的进一步改进：所述主板采用A5052铝合金制成。通过主板采用A5052铝合金制成，A5052的质量较轻，方便使用，而且强度高、塑性好，不易磨损，可以抵抗产品模封体的摩擦。

作为本发明的进一步改进：所述导向块和导向嘴采用不锈钢制成。

作为本发明的进一步改进：所述导向块和导向嘴采用SUS304制成。通过导向块和导向嘴采用SUS304制成，表面光滑，硬度大，耐磨性好，不易生锈。

作为本发明的进一步改进：所述盖板开设有若干个方形孔，若干个方形孔均匀分布于盖板上。通过盖板开设有方形孔便于观察产品模封体上印字内容是否正确，有无漏印错印。

作为本发明的进一步改进：所述主板的侧面开设有长条形槽。通过主板侧面开设有长条形槽，便于观察引脚有无变形。

作为本发明的进一步改进：所述主板的轨道上开设有若干个条形孔，若干个条形孔均匀分布于轨道上。通过主板的轨道上开设有若干个条形孔，条形孔可减少产品模封体与轨道的接触面积，减小摩擦力，使产品在轨道上滑动更顺畅。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1.本发明的半导体外观检查治具，提高了外观检查人员的工作效率，检查速度更快，操作起来更方便，同时也提高了检查效果，更容易发现不良品，避免不良品流动出去，降低质量事故的出现。