[发明专利]一种半导体外观检查治具在审
| 申请号： | 202211180062.6 | 申请日： | 2022-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN115494081A | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 鄢坤;廖伟强;袁伟刚;范庆庆;徐世明 | 申请（专利权）人： | 珠海格力新元电子有限公司;珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/956;G01N21/01;H01L21/67 |
| 代理公司： | 广州京诺知识产权代理有限公司 44407 | 代理人： | 肖金艳 |
| 地址： | 519070 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 外观 检查 | ||
1.一种半导体外观检查治具，其特征在于：包括盖板和主板，所述盖板和主板铰接，所述主板的开口端设有导向块，所述主板的尾端设有挡块，所述盖板的开口端安装有导向嘴；所述主板设有轨道，所述轨道的一端与挡块连接，轨道的另一端与导向嘴连接，所述轨道的截面为U型。
2.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述盖板和主板通过合页连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述盖板和主板采用铝合金制成。
4.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述盖板采用A5052铝合金制成。
5.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述主板采用A5052铝合金制成。
6.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述导向块和导向嘴采用不锈钢制成。
7.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述导向块和导向嘴采用SUS304制成。
8.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述盖板开设有若干个方形孔，若干个方形孔均匀分布于盖板上。
9.根据权利要求8所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述主板的侧面开设有长条形槽。
10.根据权利要求8或9所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述主板的轨道上开设有若干个条形孔，若干个条形孔均匀分布于轨道上。
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