[发明专利]一种CIS芯片及其图像测试模块和测试方法

摘要

本发明公开了一种CIS芯片及其图像测试模块和测试方法，其中，图像测试模块被配置为：在芯片设计阶段，根据芯片测试需求，预先设置待测芯片各项测试所需的配置，包括：响应于测试启动信号，断开待测芯片内部像素模块输出，控制内部电压产生模块输出指定电压作为测试输入电压；各项测试所需测试向量以及各项测试输入电压值；在芯片测试阶段，随着测试项目的切换自动配置所需的测试向量以进行相应测试。本发明提通过在CIS芯片内部集成图像测试模块，并在测试模块中预先设置芯片测试所需的各种配置，以便于在测试过程中自动实现相应的测试向量配置，减少了测试时间和成本，提高了测试效率。