[发明专利]一种CIS芯片及其图像测试模块和测试方法

说明书

本发明公开了一种CIS芯片及其图像测试模块和测试方法，其中，图像测试模块被配置为：在芯片设计阶段，根据芯片测试需求，预先设置待测芯片各项测试所需的配置，包括：响应于测试启动信号，断开待测芯片内部像素模块输出，控制内部电压产生模块输出指定电压作为测试输入电压；各项测试所需测试向量以及各项测试输入电压值；在芯片测试阶段，随着测试项目的切换自动配置所需的测试向量以进行相应测试。本发明提通过在CIS芯片内部集成图像测试模块，并在测试模块中预先设置芯片测试所需的各种配置，以便于在测试过程中自动实现相应的测试向量配置，减少了测试时间和成本，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及CIS芯片测试技术领域，具体涉及一种CIS芯片及其图像测试模块和测试方法。

背景技术

通常在CIS芯片(即CMOS图像传感器)量产前，为了提高产品良率，会进行一系列的功能和特性方面的测试，而目前的主流测试方法大部分都是基于ATE测试平台来进行的。随着CIS芯片的不断发展，芯片上集成的功能越来越多，结构越来越复杂，相应的测试时间和成本也大大增加。

对于CIS芯片的图像测试而言，传统的测试方法是，针对事先拟定的测试内容，每项测试前需要手动在ATE(Automatic Test Equipment，集成电路自动测试机)测试平台上通过I2C配置相关的测试向量或者手动在外部测试装置上配置相关的测试向量，且每项测试都单独输出一帧图像，最后输出图像数据到自动测试机ATE上，判断该项测试通过或失败，如图1所示。传统的测试技术存在如下问题：

(1)由于每项测试都需要人工配置测试向量，配置后还需要花时间去调试和验证配置的正确性，会大大增加测试时间和成本，导致测试效率低，特别是在测试项目数较多的情况下，测试时间和成本会大幅提高；

(2)传统的测试技术需要分别单独输出各项测试的图像数据到ATE上进行分析判断，耗时长，且在测试项目较多的情况下，输出的图像数据量会很大，需要配置缓存器或存储器等来存储大量的图像数据，且数据处理负担也相应增大，从而导致成本大幅升高。

(3)此外，手动配置测试向量，容易产生人为的操作失误等问题，从而导致测试结果异常。

发明内容

为了解决传统的通过外部测试平台或测试装置进行CIS芯片测试，存在测试时间长，测试效率较低的问题。本发明提供了一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块。

本发明通过下述技术方案实现：

一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块，该图像测试模块被配置为：

在芯片设计阶段，根据芯片测试需求，预先设置待测芯片各项测试所需的配置，包括：响应于测试启动信号，断开待测芯片内部像素模块输出，控制内部电压产生模块输出指定电压作为测试输入电压；各项测试所需测试向量以及各项测试输入电压值；

在芯片测试阶段，随着测试项目的切换自动配置所需的测试向量以进行相应测试。

本发明提通过在CIS芯片内部集成图像测试模块，并在测试模块中预先设置芯片测试所需的各种配置，以便于在测试过程中自动实现相应的测试向量配置，无需针对每项测试项目进行人工配置，节省了大量的人力和时间，同时在设计阶段进行预先配置，可通过仿真对配置进行验证，从而保证配置的准确性，避免因人工配置带来的错误等，提高了测试的可靠性。

作为优选实施方式，本发明的图像测试模块被配置为：

在芯片设计阶段，根据芯片测试需求，预先划分各项测试项目的图像输出范围，使所有测试项目的输出集成在一张图像中。

本发明通过预先划分图像输出范围，保证所有测试项目的输出集成在一张图像中，相较于传统的测试技术需要针对每项测试输出一张图像，降低了测试时间，同时大大减少了数据量，降低了成本。