[发明专利]一种CIS芯片及其图像测试模块和测试方法

权利要求书

1.一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块，其特征在于，该图像测试模块被配置为：

在芯片设计阶段，根据芯片测试需求，预先设置待测芯片各项测试所需的配置，包括：响应于测试启动信号，断开待测芯片内部像素模块输出，控制内部电压产生模块输出指定电压作为测试输入电压；各项测试所需测试向量以及各项测试输入电压值；

在芯片测试阶段，随着测试项目的切换自动配置所需的测试向量以进行相应测试。

2.根据权利要求1所述的一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块，其特征在于，该图像测试模块被配置为：

在芯片设计阶段，根据芯片测试需求，预先划分各项测试项目的图像输出范围，使所有测试项目的输出集成在一张图像中。

3.根据权利要求2所述的一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块，其特征在于，该图像测试模块包括像素读出行计数单元、测试项计数单元和测试向量配置单元；

所述像素读出行计数单元用于对读出的像素行进行计数；

所述测试项计数单元根据像素行计数结果以及各测试项目输出范围，对测试项目进行计数；

所述测试向量配置单元根据测试项目计数结果，自动配置各测试项目所需的测试向量。

4.根据权利要求3所述的一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块，其特征在于，测试项目输出范围可通过配置寄存器实现，其默认值＝总像素行数/测试项目总数。

5.根据权利要求3所述的一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块，其特征在于，测试项目输出范围能够根据实际测试要求，通过I2C通信方式外部配置实现。

6.根据权利要求2-5任一项所述的一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块，其特征在于，各项测试输入电压值能够通过配置寄存器实现；

或者，根据实际测试要求，通过I2C通信方式外部配置实现。

7.一种CIS芯片，其特征在于，采用权利要求1-6任一项所述的图像测试模块实现CIS图像测试。

8.根据权利要求7所述的一种CIS芯片，其特征在于，还包括内部电压产生模块，所述内部电压产生模块用于在测试时替代CIS的像素模块为ADC模块提供测试输入信号。

9.根据权利要求8所述的一种CIS芯片，其特征在于，所述内部电压产生模块采用开尔文分压器结构。

10.基于权利要求2-6任一项所述的一种集成于CIS芯片内部的图像测试模块的测试方法，其特征在于，该方法包括：

接收到外部发送的测试启动信号，开启测试功能；

断开像素模块，根据预先设置的测试输入电压值，控制内部电压产生模块产生指定的测试输入电压；

按照预先设置的测试向量，自动配置各测试项目所需的测试向量以进行相应测试；

按照预先划定的区域，将各测试项目的测试结果输出至一张图像的指定区域，使得所有测试项目的测试结果集成在同一张图像上输出；

将测试图像输出并进行分析判断。