[发明专利]基板处理方法、基板处理装置、半导体装置的制造方法和记录介质在审

专利信息
申请号: 202211132228.7 申请日: 2022-09-16
公开(公告)号: CN115874161A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 刘涛;原田和宏;今村友纪;奥田和幸;野田孝晓 申请(专利权)人: 株式会社国际电气
主分类号: C23C16/36 分类号: C23C16/36;C23C16/452;C23C16/52
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 陈彦;李宏轩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及基板处理方法、基板处理装置、半导体装置的制造方法和记录介质。本发明即使在低温下,也能够使膜中的氮浓度成为所希望的浓度。基板处理方法包括:(a)对基板供给含有预定元素的第一气体的工序;(b)对基板供给含有碳和氮的第二气体的工序;(c)对基板供给被等离子体活化后的含有氮的气体的工序;(d)对基板供给含有氧的气体的工序;以及(e)通过将进行(a)至(d)的循环进行2次以上的第一次数或者通过将依次进行(a)至(d)的循环进行1次以上,从而在基板上形成至少含有预定元素、氧、碳和氮的膜的工序。
搜索关键词: 处理 方法 装置 半导体 制造 记录 介质
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社国际电气,未经株式会社国际电气许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202211132228.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top