[发明专利]一种多背板架构的ATE测试设备有效
| 申请号： | 202211093549.0 | 申请日： | 2022-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN115575792B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 张九六;胡建仁 | 申请（专利权）人： | 杭州国磊半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F13/38;G06F13/40;G06F13/42 |
| 代理公司： | 北京知汇林知识产权代理事务所(普通合伙) 11794 | 代理人： | 叶晨晖 |
| 地址： | 310000 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多背板架构的ATE测试设备，属于计算机技术领域，多背板架构的ATE测试设备包括：PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口，通信背板，用于传输信号，测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能，接口转接板，用于提供与待测芯片的接口，N个PCIE接口通过通信背板与测试功能板组的PCIE接口连接，测试功能板组与接口转接板连接，以使测试功能板组通过接口转接板测试待测芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 背板 架构 ate 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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