[发明专利]一种多背板架构的ATE测试设备

说明书

本发明公开了一种多背板架构的ATE测试设备，属于计算机技术领域，多背板架构的ATE测试设备包括：PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口，通信背板，用于传输信号，测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能，接口转接板，用于提供与待测芯片的接口，N个PCIE接口通过通信背板与测试功能板组的PCIE接口连接，测试功能板组与接口转接板连接，以使测试功能板组通过接口转接板测试待测芯片。

技术领域

本发明属于计算机技术领域，具体涉及一种多背板架构的ATE测试设备。

背景技术

针对高速信号ATE(Automatic Test Equipment)设备，接口线缆的损耗对测试结果影响很大。目前测试设备多采用线缆线缆连接，线缆对高速信号的衰减造成测试频率较低。

公开于本申请背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本申请的一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种一种多背板架构的ATE测试设备，以解决目前测试设备多采用线缆线缆连接，线缆对高速信号的衰减造成测试频率较低的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：

第一方面，本发明实施例提供了一种多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，包括：

PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口；

通信背板，用于传输信号；

测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能；

接口转接板，用于提供与待测芯片的接口；

所述N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，所述测试功能板组与所述接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片。

可选地，所述通信背板用于传输信号包括：

所述通信背板用于传输所述PCIE扩展板与所述测试功能板组之间的通信信号；

所述通信信号用于提供所述测试功能板组到所述计算机的数据传输通道。

可选地，所述测试功能板组包括N个测试功能板，每个所述测试功能板具有至少一个PCIE接口；

所述N个PCIE接口通过所述通信背板分别与所述N个测试功能板的PCIE接口一一对应连接。

可选地，所述接口转接板包括N个测试接口；

所述接口转接板通过所述N个测试接口与所述N个测试功能板连接。

可选地，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：

同步板，所述同步板通过所述通信背板与所述测试功能板组连接，以向所述测试功能板组提供所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号；

其中，在所述测试功能板组包括多个测试功能板的情况下，所述同步板还用于提供所述多个测试功能板的同步功能。

可选地，所述通信背板用于传输信号包括：

所述通信背板用于传输所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号和同步信号；

其中，所述同步信号为所述同步板向所述多个测试功能板提供的同步功能对应的信号。

可选地，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：电源模块和电源背板；