[发明专利]一种多背板架构的ATE测试设备

权利要求书

1.一种多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，包括：

PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口；

通信背板，用于传输信号；

测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能；

接口转接板，用于提供与待测芯片的接口；

所述N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，所述测试功能板组与所述接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片；

其中，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：

同步板，所述同步板通过所述通信背板与所述测试功能板组连接，以向所述测试功能板组提供所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号；

其中，在所述测试功能板组包括多个测试功能板的情况下，所述同步板还用于提供所述多个测试功能板的同步功能；

其中，所述通信背板用于传输信号包括：

所述通信背板用于传输所述PCIE扩展板与所述测试功能板组之间的通信信号和传输所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号和同步信号；

所述通信信号用于提供所述测试功能板组到所述计算机的数据传输通道；

所述同步信号为所述同步板向所述多个测试功能板提供的同步功能对应的信号。

2.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述测试功能板组包括N个测试功能板，每个所述测试功能板具有至少一个PCIE接口；

所述N个PCIE接口通过所述通信背板分别与所述N个测试功能板的PCIE接口一一对应连接。

3.根据权利要求2所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述接口转接板包括N个测试接口；

所述接口转接板通过所述N个测试接口与所述N个测试功能板连接。

4.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，还包括：电源模块和电源背板；

所述电源模块通过所述电源背板与所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组连接，用以为所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组提供电源。

5.根据权利要求4所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述电源背板与所述通信背板在结构布局上处于同一平面，与所述测试功能板组的通信连接器、电源连接器在结构布局上处于同一平面。

6.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述接口转接板与所述测试功能板组的测试接口连接器在结构布局上处于同一平面。

7.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，还包括：

DUT板，所述DUT板与所述接口转接板连接，所述接口转接板将测试信号传输至所述DUT板。