[发明专利]晶圆键合滑片的检测方法、装置和电子设备在审

专利信息
申请号: 202211089497.X 申请日: 2022-09-05
公开(公告)号: CN115839669A 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 孙宝;马双义;赵捷 申请(专利权)人: 拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/02;H01L21/66
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 曹延鹏
地址: 314499 浙江省嘉兴*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种晶圆键合滑片的检测方法、装置和电子设备。其中,该方法包括:获取两片晶圆键合后的图像;基于键合后的图像判断键合设备的卡盘轮廓是否近似于圆形;如果近似于圆形,确定键合后的图像对应的目标椭圆;基于目标椭圆的宽和高的差值判断键合后的晶圆是否出现滑片。该方式中,在获取两片晶圆键合后的图像之后,可以通过圆形拟合和椭圆形拟合的方式,检测键合结果是否出现滑片,实现了自动化晶圆键合检测,可以节约时间和人力成本,提高效率、准确度和安全性,从而有效的避免滑片对设备产生的安全性影响。
搜索关键词: 晶圆键合滑片 检测 方法 装置 电子设备
【主权项】:
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