[发明专利]一种芯片扫描测试电路及芯片在审
| 申请号： | 202211053849.6 | 申请日： | 2022-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN115469208A | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 马炜华;张浩亮 | 申请（专利权）人： | 珠海海奇半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 李柱雄 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片扫描测试电路及芯片，其中一种芯片扫描测试电路包括：至少一个高频逻辑模块以及至少一个低频逻辑模块；至少一个时钟控制器；第一时钟输入端，用于接收外部测试时钟信号；选择模块，选择模块的第一输入端与时钟控制器连接，选择模块第二输入端与第一时钟输入端连接，选择模块的输出端分别与高频逻辑模块以及低频逻辑模块连接；模式控制端，与选择模块的受控端连接。以此，通过选择模块控制输出的时钟信号，使得低频逻辑模块无需连接在时钟控制器后亦可以获取测试时钟信号，有利于提高测试覆盖率，同时，无需在低频逻辑模块前插入与其对应的时钟控制器，有利于减少片上时钟控制器数量，节省芯片面积，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 扫描 测试 电路 | ||
【主权项】：
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