[发明专利]插入损耗测试端口在审

专利信息
申请号: 202210892409.3 申请日: 2022-07-27
公开(公告)号: CN115166375A 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 胡新星;叶卓炜;马奕;彭浪 申请(专利权)人: 景旺电子科技(珠海)有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 谢蓓
地址: 519000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及印制线路板加工技术领域,提出一种插入损耗测试端口,设于电路板上,所述插入损耗测试端口包括:多个定位孔,多个定位孔间隔分布在电路板且围成一测试区;两个接地PAD,平行且间隔地设于测试区内,每个接地PAD均为条形且沿第一方向延伸;测试组件,设于两个接地PAD之间,测试组件包括至少一个测试PAD,测试PAD的至少部分与相邻接地PAD之间具有预设距离;其中,定位孔和测试PAD组成第一测试端口;接地PAD和测试PAD组成第二测试端口。上述插入损耗测试端口实现了进行差分插损测试及特性插损测试时常用系列探针的适配,无需购买多种规格的探针装置,节省成本。
搜索关键词: 插入损耗 测试 端口
【主权项】:
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